PEEMは「Photoemission Electron Microscopy」の略称です。これは、光電子顕微鏡法を指し、材料の表面やナノスケールの構造を観察するための技術です。具体的には、以下のような特徴があります。 原理: 光を使って材料の表面から電子を放出させ、その電子を検出することで、材料の特性や構造を分析します。 用途: 半導体や金属の研究、表面科学、ナノテクノロジーなど、さまざまな分野で利用されています。 利点: 高い空間分解能を持ち、材料の電子状態や化学状態を詳細に調べることができます。 この技術は、特に新しい材料の開発や特性評価において重要な役割を果たしています。